Разработана методика патентных исследований для оценки технического уровня объекта разработки. Проект включает анализ патентной информации, сравнительный анализ технических решений и экспертные оценки. Новизна заключается в учете технического уровня при проведении патентных исследований.
Название: “Методика проведения патентных исследований при оценке технического уровня объекта разработки”
Тип: Реферат
Объект исследования: Патентные исследования
Предмет исследования: Оценка технического уровня объекта разработки
Методы исследования: Анализ патентной информации, сравнительный анализ технических решений, экспертные оценки
Научная новизна: Разработка методики проведения патентных исследований с учетом оценки технического уровня объекта разработки
Цель проекта: Исследовать методику проведения патентных исследований для оценки технического уровня объекта разработки
Проблема: Недостаточная эффективность текущих методов оценки технического уровня объектов разработки через патентные исследования
Целевая аудитория: Исследователи, инженеры, патентные поверенные, студенты и преподаватели в сфере интеллектуальной собственности
Задачи проекта:
1. Изучить существующие методики патентных исследований
2. Разработать методику оценки технического уровня объекта разработки
3. Провести анализ эффективности новой методики на примере конкретных объектов разработки
Содержание
- Определение патентных исследований
- Методы патентного анализа
- Инструменты для проведения патентных исследований
- Понятие технического уровня
- Критерии оценки технического уровня
- Методы оценки технического уровня
- Обзор существующих методик
- Преимущества и недостатки
- Анализ эффективности
- Необходимость разработки
- Принципы новой методики
- Этапы разработки
- Тестирование на примере конкретных объектов разработки
- Анализ результатов
- Выводы и рекомендации