Разработана методика патентных исследований для оценки технического уровня объекта разработки. Используются анализ патентной информации, сравнительный анализ технических решений и экспертные оценки. Проект направлен на повышение эффективности оценки технических решений через патентные исследования.
Название: “Методика проведения патентных исследований при оценке технического уровня объекта разработки”
Тип: Реферат
Объект исследования: Патентные исследования
Предмет исследования: Оценка технического уровня объекта разработки
Методы исследования: Анализ патентной информации, сравнительный анализ технических решений, экспертные оценки
Научная новизна: Разработка методики проведения патентных исследований с учетом оценки технического уровня объекта разработки
Цель проекта: Исследовать методику проведения патентных исследований для оценки технического уровня объекта разработки
Проблема: Недостаточная эффективность существующих методик оценки технического уровня объектов разработки через патентные исследования
Целевая аудитория: Исследователи, инженеры, патентные поверенные, студенты, преподаватели
Задачи проекта:
1. Изучить существующие методики патентных исследований
2. Разработать методику оценки технического уровня объекта разработки
3. Провести экспериментальное исследование эффективности методики
4. Сформулировать рекомендации по улучшению процесса патентных исследований
Содержание
- Понятие патентных исследований
- Методы проведения патентных исследований
- Оценка технического уровня объекта разработки
- Шаг 1: Изучение существующих патентов
- Шаг 2: Сравнительный анализ технических решений
- Шаг 3: Экспертная оценка технического уровня
- Подбор объектов для исследования
- Проведение патентных исследований по разработанной методике
- Анализ результатов и сравнение существующих методик
- Улучшение процесса патентных исследований
- Повышение эффективности оценки технического уровня
- Адаптация методики для различных областей техники